シリコン,ゲルマニウム単結晶の破砕層 X線2回反射積分強度測定による検討
書誌事項
- タイトル別名
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- シリコン , ゲルマニウムタンケッショウ ノ ハサイソウ Xセン 2カイ ハンシャ セキブン キョウド ソクテイ ニ ヨル ケントウ
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抄録
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
収録刊行物
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- 東芝レビュー = Toshiba review / 東芝ビジネスエキスパート株式会社ビジネスソリューション事業部 編集・制作
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東芝レビュー = Toshiba review / 東芝ビジネスエキスパート株式会社ビジネスソリューション事業部 編集・制作 19 (12), ????-, 1964-12
東京 : 東芝技術企画部
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520854805197689088
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- NII論文ID
- 40018134235
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- NII書誌ID
- AN00166099
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- ISSN
- 03720462
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- NDL書誌ID
- 8332339
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles