テクノロジー クラック発生によるノイズが引き起こす周波数ジャンプ現象
書誌事項
- タイトル別名
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- テクノロジー クラック ハッセイ ニ ヨル ノイズ ガ ヒキオコス シュウハスウ ジャンプ ゲンショウ
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収録刊行物
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- EMC : electro magnetic compatibility : solution technology : 電磁環境工学情報
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EMC : electro magnetic compatibility : solution technology : 電磁環境工学情報 14 (6), 52-56, 2001-10
つくば : [科学情報出版]
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1521980704706441728
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- NII論文ID
- 40004948440
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- NII書誌ID
- AN10073620
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- ISSN
- 09162275
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- NDL書誌ID
- 5935323
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles