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- 小野 明
- 正会員 (株)東芝
書誌事項
- タイトル別名
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- Surface testing for electronic industry.
- エレクトロニクス サンギョウ カンレン ノ ケッカン ケンサ
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抄録
表面欠陥検査はまだ人手に頼る場合が多い.しかしエレクトロニクス産業における欠陥検査のように,広い面積の中の微小欠陥検出においては,肉眼作業の疲労の問題から,レーザを用いた方法が使われ始めている.<BR>ここでは,パターンのある表面の検査に的を絞り,各種方法を紹介した.ハイテク産業の発展とともに,今後ますます欠陥検出感度向上の必要性が高まるものと思われる.
収録刊行物
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- 精密工学会誌
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精密工学会誌 53 (8), 1158-1160, 1987
公益社団法人 精密工学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679774584320
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- NII論文ID
- 110001369261
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- NII書誌ID
- AN1003250X
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- ISSN
- 1882675X
- 09120289
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- NDL書誌ID
- 3138742
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可